เซินเจิ้น Baiqiancheng Electronic Co.,Ltd
+86-755-86152095
ประเภท
ติดต่อเรา
  • โทร: +86-755-86152095
  • แฟกซ์: +86-755-26788245
  • อีเมล:bqcpcba@bqcdz.com
  • เพิ่ม: No.343 Changfeng rd, Guangming District, เซินเจิ้น, กวางตุ้ง, จีน

จะทำการตรวจสอบคุณภาพผ่านการตรวจสอบด้วยภาพ (AOI) และรังสีเอกซ์ (X-Ray) ได้อย่างไรหลังการเชื่อม PCBA

Jun 24, 2025

การตรวจสอบคุณภาพหลังการเชื่อม PCBA เป็นสิ่งสำคัญ การตรวจสอบด้วยสายตาและการเอ็กซ์-เป็นเทคโนโลยีการทดสอบแบบไม่ทำลาย-สองชนิดที่ใช้กันทั่วไป:

การตรวจสอบด้วยแสงอัตโนมัติ (AOI):

หลักการ: อุปกรณ์ AOI จะสแกน PCBA โดยอัตโนมัติผ่านกล้องความเร็วสูง-เพื่อจับภาพ โดยจะเปรียบเทียบภาพจริงกับภาพที่ผ่านการรับรองมาตรฐานที่จัดเก็บไว้ในระบบ และใช้อัลกอริธึมการประมวลผลภาพเพื่อตรวจจับความแตกต่าง

วัตถุการตรวจจับ: ส่วนใหญ่ใช้ในการตรวจจับข้อบกพร่องบนพื้นผิวของ PCBA เช่นข้อบกพร่องในการพิมพ์แบบวางประสาน (ดีบุกมากเกินไป ดีบุกไม่เพียงพอ ออฟเซ็ต) ข้อบกพร่องในการติดตั้งส่วนประกอบ (ออฟเซ็ต อนุสาวรีย์ ชิ้นส่วนผิด ชิ้นส่วนที่ขาดหายไป) ข้อบกพร่องของข้อต่อประสาน (ไฟฟ้าลัดวงจร วงจรเปิด การบัดกรีเย็น ดีบุกไม่เพียงพอ ดีบุกเชื่อม) ฯลฯ

ข้อดี: ความเร็วที่รวดเร็ว ระบบอัตโนมัติระดับสูง ต้นทุนค่อนข้างต่ำ เหมาะสำหรับการตรวจสอบออนไลน์ 100%

ข้อจำกัด: ไม่สามารถตรวจพบข้อต่อบัดกรีหรือข้อบกพร่องภายในที่ถูกบล็อกโดยส่วนประกอบเอง

การตรวจสอบรังสีเอ็กซ์-:

หลักการ: อุปกรณ์รังสี X- ปล่อยรังสี X - เพื่อเจาะ PCBA และใช้เครื่องตรวจจับเพื่อรับรังสีที่ทะลุผ่านเพื่อสร้างภาพ เนื่องจากวัสดุที่แตกต่างกันมีความสามารถในการดูดซับรังสีเอกซ์-ที่แตกต่างกัน (โลหะดูดซับมากขึ้น อินทรียวัตถุดูดซับน้อยลง) จึงสามารถแสดงรอยต่อประสานและโครงสร้างภายในของส่วนประกอบได้อย่างชัดเจน

วัตถุการตรวจสอบ: ส่วนใหญ่ใช้เพื่อตรวจจับข้อบกพร่องภายในที่ AOI ไม่สามารถมองเห็นหรือตรวจจับได้ยาก เช่น ช่องว่าง การลัดวงจร และข้อต่อบัดกรีเย็นที่ด้านล่างของบรรจุภัณฑ์ เช่น BGA (ball grid array) และ QFN (quad flat no pins) รวมถึงข้อบกพร่องทางโครงสร้างและการเสียรูปของลีดเฟรมภายในส่วนประกอบ

ข้อดี: สามารถเจาะส่วนประกอบต่างๆ ตรวจจับข้อบกพร่องของข้อต่อบัดกรีภายในและด้านล่าง และมีความสามารถในการตรวจสอบที่แข็งแกร่งสำหรับบรรจุภัณฑ์ที่ซับซ้อน

ข้อจำกัด: ต้นทุนสูง ความเร็วในการตรวจสอบช้าเมื่อเทียบกับ AOI มักใช้สำหรับการตรวจสอบแบบสุ่มหรือการตรวจสอบ PCBA หลักทั้งหมด

โดยปกติแล้วเทคโนโลยีทั้งสองนี้จะถูกนำมาใช้ร่วมกันเพื่อเสริมซึ่งกันและกันเพื่อมอบโซลูชันการตรวจสอบคุณภาพ PCBA ที่ครอบคลุมมากขึ้น AOI เป็นขั้นตอนแรกในการคัดกรองข้อบกพร่องที่พื้นผิวอย่างรวดเร็ว ในขณะที่ X-Ray เป็นวิธีการตรวจสอบเชิงลึก โดยมุ่งเน้นไปที่คุณภาพรอยต่อบัดกรีภายในของส่วนประกอบหลัก เช่น BGA